局部放電測(cè)試儀專業(yè)術(shù)語(yǔ)解析
點(diǎn)擊次數(shù):1621 更新時(shí)間:2016-11-02
小編為大家總結(jié)了一些關(guān)于
局部放電測(cè)試儀的專業(yè)術(shù)語(yǔ),希望能夠幫助大家了解
局部放電測(cè)試儀。
1、局部放電測(cè)試儀中的局部放電是指在絕緣的局部位置放電,它并不構(gòu)成整個(gè)絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式:內(nèi)部放電(在介質(zhì)內(nèi)部)、沿面放電(在介質(zhì)表面)、電暈放電(在電極)。
2、電荷量q在試品兩端瞬時(shí)注入一定電荷量,使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同,此注入量即為局部放電的視在電荷量。
3、視在放電量校準(zhǔn)器
局部放電測(cè)試儀的視在放電量校準(zhǔn)器是一標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器,試驗(yàn)前它以輸出某固定電量加之試品兩端,模擬該試品在此電量下放電時(shí)局部放電測(cè)試儀的響應(yīng),此時(shí)調(diào)整刻度系數(shù),確定局部放電檢測(cè)儀的量程,以便在試驗(yàn)時(shí)測(cè)量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時(shí)以標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器比較后間接測(cè)出,而非直接測(cè)出,故此放電量稱為“視在放電量”。
校正電量發(fā)生器是測(cè)量局部放電時(shí)*的儀器,它的性能參數(shù)直接關(guān)系到測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器和校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成,其參數(shù)主要包括:脈沖波形上升時(shí)間、衰減時(shí)間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校準(zhǔn)電容值等。校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時(shí)間為從0.1U0到0.9U0的時(shí)間,衰減時(shí)間定義為從峰值下降到0.1U0的時(shí)間。
4、檢測(cè)阻抗
局部放電測(cè)試儀的檢測(cè)阻抗是拾取檢測(cè)信號(hào)的裝置,在使用中,應(yīng)根據(jù)不同的測(cè)試目的,被試品的種類來(lái)選擇合適的檢測(cè)阻抗,以提高局部放電測(cè)量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。檢測(cè)阻抗按調(diào)諧電容范圍分1~12號(hào)。
5、時(shí)間窗
局部放電測(cè)試儀的時(shí)間窗是為防止大于局部放電的干擾信號(hào)進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計(jì)的一種電路裝置。因在實(shí)際試驗(yàn)時(shí),尤其是在現(xiàn)場(chǎng)做試驗(yàn)時(shí),不可避免地會(huì)引入一些干擾,所以,時(shí)間窗的使用更顯得重要。